光通信器件冷热冲击试验箱

尊敬的客户

我们非常高兴向您介绍我们的光通信器件冷热冲击试验箱。这款设备专为需要严格模拟高低温快速转换条件的各种应用而设计，无论您是在进行科学研究，产品质量控制，还是环境适应性测试，它都能满足您的需求。

我们的光通信器件冷热冲击试验箱具有50L的内容积，内箱尺寸为400*350*350mm（W*H*D），外形尺寸约为1550*1750*1600mm（W*H*D）。这个大小可以容纳大多数试验物品，同时搬运和使用时也十分方便。

我们的试验箱重量约为700kg，设计精良，结构稳定，能适应各种环境下的搬运和使用。无论是实验室到实验室，还是室外到室内，都能轻松应对。

在性能方面，我们的产品符合GB/T2423.1-2008低温试验方法、GB/T2423.2-2008高温试验方法、GB/T2423.22-2012温度变化试验、GJB150.5-86温度冲击试验、GJB360.7-87温度冲击试验、GJB367.2-87温度冲击试验、QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等标准，为您提供准确的、可靠的测试结果。

我们的试验箱测试室温度范围为-40℃～+150℃（风冷式），低温冲击范围为-10℃～-40℃，高温冲击范围为60℃～150℃。无论是高低温快速转换的寒冷条件，还是极度炎热的环境，我们都能为您提供准确、重复性的测试结果。

预热温度范围为RT～+165℃，升温时间+50℃→+165℃ ≤30min，降温时间+20℃ → -55℃≤约60min，无论您需要快速升温还是快速降温，我们都能迅速满足您的需求。

光通信器件冷热冲击试验箱在试验方式上，我们采用蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，这样可以更准确地模拟温度冲击条件，提供更为准确、可靠的测试结果。

我们的设备温度波动度控制在±0.5℃，温度偏差控制在±2.0℃，这意味着我们可以确保试验物品在稳定的温度环境中，避免因温度波动导致的测试误差。

此外，我们的设备还具有温度恢复时间≤5min，转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）的优秀性能，这意味着我们的设备可以快速地从高低温快速转换的温度条件恢复到正常温度，保证测试的连续性和高效性。

最后，我们的冷热冲击试验箱还具有冲击暴露时间≥30min的性能，这意味着我们的设备可以长时间、稳定地模拟温度冲击条件，满足各种长时间测试的需求。

总的来说，我们的冷热冲击试验箱是一款高性能、高品质的设备，能够满足各种严格的应用需求。无论您是在进行科学研究，产品质量控制，还是环境适应性测试，我们都能为您提供最准确、可靠的测试结果。如果您对我们的产品感兴趣或有任何疑问，请随时联系我们，我们将竭诚为您服务！